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ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。可應用于半導體薄膜結構，半導體周期性納米結構，新材料，新物理現(xiàn)象研究，平板顯示，光伏太陽能，功能性涂料，生物和化學工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結構的表

產品簡介：DSA-X光學接觸角測量儀配置高分辨率的高速工業(yè)相機搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優(yōu)化的軟件進行計算擬合從而獲得準確的測試數(shù)據(jù)。儀器機構結合了人體工程學，提供人性化的自動化進樣調節(jié)、樣品臺調節(jié)、光學系統(tǒng)調節(jié)等，使測試變得精確而快速高效。

為滿足現(xiàn)場快速檢測多元化的需求，因此Finder lnsight系列增加了一款革命性的產品，因其小巧便攜性，功能的多樣性，被人稱之為“百變小金剛”。

TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

SGC-10薄膜測厚儀適用于介質，半導體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀，是我公司與美國new-span公司合作研制的，采用new-span公司*的薄膜測厚技術，基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學常數(shù)（折射率n，消光系數(shù)k）。

SSR-3000便攜式拉曼檢測儀采用工業(yè)級的防水、防塵、防震、防摔設計，適合各種惡劣環(huán)境下使用，可靠性、穩(wěn)定性更高。設備自帶操作系統(tǒng)和人性化軟件交互界面，集成了*的智能解譜和光譜分析算法，*做到“一鍵操作”。SSR-3000便攜式拉曼檢測儀適用于：?珠寶玉石鑒定、文物鑒別；生物醫(yī)藥檢測、材料表征、地址勘探等；食品違禁添加物、色素添加、農獸藥殘留檢測；爆炸物、危險化工品、易燃易爆品檢測；